熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量可以在10秒到幾分鐘內完成。

 

　　今天小編要與大家分享的是熒光鍍層測厚儀的五種測量原理：

 

　　1、磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高。

 

　　2、超聲波測厚法：目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴\測量精度也不高。

 

　　3、渦流測厚法：適用導電金屬上的非導電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法精度低。

 

　　4、放射測厚法：此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上)，適用于一些特殊場合。

 

　　5、電解測厚法：此方法不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩。

 

　　在粗糙度表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。本儀器為獲得可靠的數據，基體的平均粗糙度應小于覆層厚度的5％。而對于表面雜質，則應予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點”。

 

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。