EDX 9000B PLUS 臺(tái)式光譜儀用于快速無(wú)損測(cè)試膨潤(rùn)土各組分成分含量
2025-09-08
EDX9000BPLUS臺(tái)式光譜儀用于快速無(wú)損測(cè)試膨潤(rùn)土各組分成分含量膨潤(rùn)土是一種以蒙脫石為主要成分的黏土礦物，因1888年在美國(guó)懷俄明州膨潤(rùn)土礦被發(fā)現(xiàn)而得名。其核心成分蒙脫石具有的層狀晶體結(jié)構(gòu)，遇水后能迅速膨脹，吸附能力強(qiáng)，是其廣泛應(yīng)用的關(guān)鍵特性。在工業(yè)領(lǐng)域，膨潤(rùn)土可用于鉆井液...
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XRF能量色散熒光光譜測(cè)金儀在貴金屬黃金成分測(cè)試的優(yōu)勢(shì)有哪些？
XRF能量色散熒光光譜測(cè)金儀在貴金屬黃金成分測(cè)試的優(yōu)勢(shì)有哪些？以及黃金K值概念由于需求增加，金屬價(jià)格尤其是黃金價(jià)格一直在加速上漲。以黃金為例，由于需求旺盛，伴隨著高價(jià)，珠寶市場(chǎng)充斥著黃銅和薄層鍍金銅制品，這些產(chǎn)品聲稱是金器，實(shí)則是贗品。同樣，物品的元素（例如類似于黃金的貴金屬）的百分比可能高于實(shí)際情況。物品（例如珠寶）或其他物品可以出售給例如買家，例如在消費(fèi)者出售個(gè)人珠寶物品以換取現(xiàn)金的情況下。在交易過(guò)程中，買家可能不得不在不允許詳細(xì)分析的環(huán)境中對(duì)物品進(jìn)行非常快速的估計(jì)。一個(gè)...
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X射線熒光光譜儀XRF分析誤差的來(lái)源探討
X射線熒光光譜儀XRF分析誤差的來(lái)源探討X射線光譜分析儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測(cè)量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來(lái)表示的，X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以保證待測(cè)樣品分析測(cè)量的精度，被分析樣品的制樣技術(shù)成為影響分析準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫?qū)?huì)反映在分析結(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器分析誤差的來(lái)源主要有以下幾個(gè)方面：1．采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2．樣品的制備：制樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3．不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測(cè)樣品是否在標(biāo)樣的組成范圍內(nèi)標(biāo)樣元素測(cè)定值的準(zhǔn)...
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X射線熒光光譜儀樣品制備方法：壓片法介紹和注意事項(xiàng)
X射線熒光光譜儀樣品制備方法：壓片法介紹和注意事項(xiàng)樣品制備技術(shù)對(duì)于在分析樣品時(shí)獲得更好的結(jié)果至關(guān)重要。樣品制備技術(shù)會(huì)影響X射線熒光分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。樣品（簡(jiǎn)稱標(biāo)樣）的配制X射線熒光分析與化學(xué)分析不同，熒光分析儀是一種相對(duì)測(cè)量?jī)x器，它是通過(guò)測(cè)量一定數(shù)量已知結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)樣品，建立相應(yīng)的正確的數(shù)學(xué)模型后，才能得到準(zhǔn)確的測(cè)量。也就是說(shuō)：要達(dá)到好的測(cè)量效果，一組好標(biāo)樣與一臺(tái)好儀器同樣重要。好儀器由我公司提供，好標(biāo)樣得由用戶化驗(yàn)室提供。好標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)是：有代表性，有一定的跨度范圍，有準(zhǔn)確的化...
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XRF熒光光譜儀制樣方法的原理和依據(jù)
XRF熒光光譜儀制樣方法的原理和依據(jù)樣品處理是整個(gè)分析檢測(cè)過(guò)程的重要組成部分。其目的是利用各種化學(xué)方法將測(cè)試元素以離子的形式從固（液）態(tài)樣品中定量轉(zhuǎn)移到測(cè)試溶液中。選擇合理的樣品分解方法可以大大簡(jiǎn)化分析程序，大大提高分析方法的適應(yīng)性和準(zhǔn)確性。設(shè)計(jì)樣品處理的原則是：①保證樣品中所有被測(cè)元素都定量轉(zhuǎn)移到試液中，即樣品必須*分解；②避免在樣品處理過(guò)程中引入干擾元素，同時(shí)有助于去除干擾元素；③分解方法應(yīng)盡可能簡(jiǎn)單、易操作、經(jīng)濟(jì)、快速、安全，盡量減少對(duì)環(huán)境的污染；④便于批量處理樣品。要...
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什么是X熒光光譜石油快速硫分析測(cè)試儀？
什么是X熒光光譜石油測(cè)硫儀？X射線熒光硫分析儀是一種基于X射線熒光光譜分析的測(cè)試光譜儀。X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀）是一種快速、無(wú)損的材料測(cè)量方法。其原理是用X射線激發(fā)源照射待分析的油樣。樣品中硫元素的內(nèi)電子被敲除后，引起核外電子躍遷。當(dāng)被激發(fā)的電子回到基態(tài)時(shí)，硫元素就會(huì)被放出。特征X射線。探測(cè)器接收這些硫元素的特征X射線信號(hào)，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的測(cè)試強(qiáng)度。特征X射線強(qiáng)度與硫含量之間的關(guān)系是用標(biāo)準(zhǔn)物...
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使用X射線能量色散熒光光譜儀的測(cè)試程序和步驟
使用X射線能量色散熒光光譜儀（XRFAnalyzer）的測(cè)試程序和步驟1光譜儀準(zhǔn)備a)按照儀器的工作說(shuō)明書給儀器通電，加熱設(shè)備，按廠家說(shuō)明書對(duì)儀器進(jìn)行穩(wěn)定。b)確保測(cè)試穩(wěn)定，并按照制造商的說(shuō)明使檢測(cè)器穩(wěn)定2校準(zhǔn)a)根據(jù)儀器用戶手冊(cè)的說(shuō)明，按照第7節(jié)的說(shuō)明選擇參考樣品作為校準(zhǔn)樣品。樣品中的元素濃度應(yīng)該不一樣。如果校準(zhǔn)覆蓋的元素多，濃度范圍大，則需要大量的校準(zhǔn)樣品。由于以下原因，校準(zhǔn)樣品的數(shù)量有所減少：—用基本參數(shù)法校準(zhǔn)（元素小于標(biāo)準(zhǔn)）—使用基本參數(shù)方法校準(zhǔn)（使用具有相似元素的標(biāo)...
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在 XRF 熒光光譜儀中使用壓片法與直接測(cè)試粉末樣品相比有哪些優(yōu)勢(shì)？
在XRF熒光光譜儀中使用壓片法與直接測(cè)試粉末樣品相比有哪些優(yōu)勢(shì)？壓片制備步驟X射線熒光光譜(XRF)對(duì)樣品材料的制備高度敏感。壓縮的水泥樣品顯示出更高的信噪比，與松散的粉末形式相比，它可以檢測(cè)到最輕的元素。當(dāng)元素組成被量化時(shí)，在預(yù)期值和松散粉末樣品之間觀察到明顯的差異。當(dāng)使用同一批水泥制備壓縮顆粒時(shí)，這些差異將消失。XRF光譜分析信號(hào)由兩部分組成：特征波長(zhǎng)處的X射線發(fā)射峰對(duì)應(yīng)于分析樣品原子中發(fā)生的電子躍遷由松散束縛的外部電子散射的X射線的連續(xù)背景，發(fā)射峰疊加在其上這些特征X射...
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